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全反射X荧光分析技术

文章附图


面向痕量和超痕量元素分析的高灵敏度TXRF技术的基础研究,涉及新型光学设计和小型化仪器开发,制样方法、基体效应研究以及与多方法联用的研究。

全反射1.png
TXRF技术原理示意图

全反射2.png

基于波导光学TXRF结构示意图

全反射3.png
波导管(waveguide) 结构示意图

全反射4.png
Glancing Angle Dependence Of Measured Fluorescence Intensity Of Si And Ca

全反射5.png
For Multi-element Energy Scale Test Spectrumx-ray Tube Was Operated At 20kv And 500μa

全反射6.png
Matrix EffectAbsorption And Enhancement

Single element

Cr

Mn

Co

Cu

Ga

Sr

Pb

LLD/ng

0.029

0.021

0.055

0.049

0.052

0.124

0.362

RSD(%n=7)

0. 72

0.81

121

1.49

1.14

2.63

2.87

Multi-element

S

Sc

V

Mn

co

Cu

Ga

As

Y

LLD/ng

0.63

0.16

0.15

0.13

0.12

0.16

0.18

0.31

0.88

Other report

1.77

0.87

0. 53

0.35

0.23

0.43

0.27

0.50

0. 37