全反射X荧光分析技术

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面向痕量和超痕量元素分析的高灵敏度TXRF技术的基础研究，涉及新型光学设计和小型化仪器开发，制样方法、基体效应研究以及与多方法联用的研究。

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TXRF技术原理示意图

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基于波导光学TXRF结构示意图

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波导管（waveguide）结构示意图

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Glancing Angle Dependence Of Measured Fluorescence Intensity Of Si And Ca

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For Multi-element Energy Scale Test Spectrum（x-ray Tube Was Operated At 20kv And 500μa）

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Matrix Effect（Absorption And Enhancement）